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http://hdl.handle.net/10469/7346| Tipo de Material: | Artículo |
| Título : | Competitividad y globalización en la industria mexicana: el papel de los Centros Tecnológicos de Investigación y Desarrollo |
| Autor : | Merritt, Humberto |
| Fecha de Publicación : | abr-2007 |
| Ciudad: Editorial : | México D. F., México : CIECAS – IPN |
| ISSN : | 1870-2872 |
| Cita Sugerida : | Merritt, Humberto. 2007. Competitividad y globalización en la industria mexicana: el papel de los Centros Tecnológicos de Investigación y Desarrollo (Artículos y Miscelánea). Mundo Siglo XXI. Revista del Centro de Investigaciones Económicas, Administrativas y Sociales del Instituto Politécnico Nacional, 8: 69-88. |
| Descriptores / Subjects : | COMPETITIVIDAD GLOBALIZACIÓN CENTROS TECNOLÓGICOS DE INVESTIGACIÓN Y DESARROLLO INDUSTRIA MANUFACTURERA INNOVACIÓN CIENTÍFICA MÉXICO INDUSTRIALIZACIÓN |
| Paginación: | p. 69-88 |
| Resumen / Abstract : | Desde hace varios años se ha observado una tendencia creciente en la producción manufacturera mundial a trasladar procesos enteros de fabricación hacia aquellos países que ofrecen las condiciones más ventajosas. Un aspecto clave en este fenómeno es la estrecha colaboración que se ha forjado entre las empresas industriales y los Centros Tecnológicos de Investigación y Desarrollo (CTID). El reforzamiento de esta colaboración obedece a las complejidades que enfrentan las firmas manufactureras para mejorar su competitividad en un entorno globalizado. México no es la excepción, y los CTID del Consejo Nacional de Ciencia y Tecnología (CONACYT) han jugado un rol fundamental para el reforzamiento de las capacidades tecnológicas de muchas de las empresas exportadoras del país. Este artículo busca documentar las causas que están detrás de esta colaboración, resaltando el papel que juega la prestación de servicios tecnológicos de soporte, tales como la difusión de estándares industriales, los servicios de consultoría técnica, la capacitación y entrenamiento industrial y la provisión de los llamados SAMCCC (servicios analíticos de metrología, calibración y control de calidad). |
| URI: | http://hdl.handle.net/10469/7346 |
| Aparece en las colecciones: | Mundo Siglo XXI, No. 08 |
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